Inmetro lança edital para 71 vagas para o Rio de Janeiro

terça-feira, 20 de outubro de 2009

O Instituto Nacional de Metrologia, Normatização e Qualidade Industrial (Inmetro) divulgou nesta segunda-feira (19) edital de abertura do concurso para 71 vagas para nível superior no estado do Rio de Janeiro – 5% delas serão destinadas a deficientes. As inscrições serão do dia 30 de outubro ao dia 22 de novembro. Os salários vão de R$ 5.964,34 a R$ 7.563,01 (leia aqui o edital).

As vagas são para o cargo de pesquisador-tecnologista em metrologia e qualidade em 38 áreas (veja lista abaixo).

Entre as funções do cargo está desenvolver atividades especializadas de planejamento, coordenação, fiscalização, assistência técnica e execução de projetos em metrologia e qualidade.

As inscrições devem ser feitas pela internet pelo endereço http://www.cespe.unb.br/concursos/inmetro_pesquisador2009, entre as 10h do dia 30 de outubro e as 23h59 do dia 22 de novembro. A taxa de inscrição é de R$ 150.

Os interessados em solicitar isenção das taxas devem solicitá-la até o dia 30 de outubro, por meio da página de inscrição pela internet.

Os candidatos serão submetidos a provas objetiva e discursiva, prova de defesa de projeto e avaliação de títulos, de experiência profissional e de publicações cientificas.

As provas objetivas e discursivas devem ser realizadas na tarde do dia 24 de janeiro de 2010 no Rio de Janeiro.

Os locais e o horário do exame deverão ser divulgados no endereço eletrônico
http://www.cespe.unb.br/concursos/inmetro_pesquisador2009 no dia 14 de janeiro.

Há vagas para as áreas de:

  • Bioengenharia tecidual
  • Biotecnologia molecular
  • Combustíveis e lubrificantes
  • Espectroscopia óptica
  • Metrologia aplicada a ciências forenses
  • Metrologia aplicada a dispositivos orgânicos
  • Metrologia aplicada a estruturas biológicas celulares
  • Metrologia aplicada a estruturas macromoleculares
  • Metrologia aplicada a propriedades termofísicas
  • Metrologia aplicada à nanometrologia
  • Metrologia aplicada à tribologia e biomateriais para implantes ortopédicos e odontológicos
  • Metrologia de comprimento e ângulo plano
  • Metrologia de força, torque, dureza e impacto
  • Metrologia de gases
  • Metrologia de massa
  • Metrologia de pressão e vácuo
  • Metrologia de volume, massa específica, viscosidade e tensão superficial
  • Metrologia eletroquímica
  • Metrologia em acústica
  • Metrologia em alta tensão
  • Metrologia em análise orgânica
  • Metrologia em análise inorgânica
  • Metrologia em corrente contínua e alternada em baixa frequência
  • Metrologia em dinâmica dos fluidos
  • Metrologia em informática
  • Metrologia em grandezas ópticas físicas
  • Metrologia em grandezas térmicas
  • Metrologia em potência e energia
  • Metrologia em sistemas de comunicação
  • Metrologia em ultra-som
  • Metrologia em vibrações
  • Microscopia de ponta de prova
  • Motores a combustão interna automotivo
  • Quimeometria
  • Síntese de fármacos
  • Tecnologia de medidas de grandezas ópticas
  • Tecnologia de medidas em dinâmica dos fluidos
  • Teoria aplicada à nanometrologia

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