Inmetro lança edital para 71 vagas para o Rio de Janeiro
terça-feira, 20 de outubro de 2009
O Instituto Nacional de Metrologia, Normatização e Qualidade Industrial (Inmetro) divulgou nesta segunda-feira (19) edital de abertura do concurso para 71 vagas para nível superior no estado do Rio de Janeiro – 5% delas serão destinadas a deficientes. As inscrições serão do dia 30 de outubro ao dia 22 de novembro. Os salários vão de R$ 5.964,34 a R$ 7.563,01 (leia aqui o edital).
As vagas são para o cargo de pesquisador-tecnologista em metrologia e qualidade em 38 áreas (veja lista abaixo).
Entre as funções do cargo está desenvolver atividades especializadas de planejamento, coordenação, fiscalização, assistência técnica e execução de projetos em metrologia e qualidade.
As inscrições devem ser feitas pela internet pelo endereço http://www.cespe.unb.br/concursos/inmetro_pesquisador2009, entre as 10h do dia 30 de outubro e as 23h59 do dia 22 de novembro. A taxa de inscrição é de R$ 150.
Os interessados em solicitar isenção das taxas devem solicitá-la até o dia 30 de outubro, por meio da página de inscrição pela internet.
Os candidatos serão submetidos a provas objetiva e discursiva, prova de defesa de projeto e avaliação de títulos, de experiência profissional e de publicações cientificas.
As provas objetivas e discursivas devem ser realizadas na tarde do dia 24 de janeiro de 2010 no Rio de Janeiro.
Os locais e o horário do exame deverão ser divulgados no endereço eletrônico
http://www.cespe.unb.br/concursos/inmetro_pesquisador2009 no dia 14 de janeiro.
Há vagas para as áreas de:
- Bioengenharia tecidual
- Biotecnologia molecular
- Combustíveis e lubrificantes
- Espectroscopia óptica
- Metrologia aplicada a ciências forenses
- Metrologia aplicada a dispositivos orgânicos
- Metrologia aplicada a estruturas biológicas celulares
- Metrologia aplicada a estruturas macromoleculares
- Metrologia aplicada a propriedades termofísicas
- Metrologia aplicada à nanometrologia
- Metrologia aplicada à tribologia e biomateriais para implantes ortopédicos e odontológicos
- Metrologia de comprimento e ângulo plano
- Metrologia de força, torque, dureza e impacto
- Metrologia de gases
- Metrologia de massa
- Metrologia de pressão e vácuo
- Metrologia de volume, massa específica, viscosidade e tensão superficial
- Metrologia eletroquímica
- Metrologia em acústica
- Metrologia em alta tensão
- Metrologia em análise orgânica
- Metrologia em análise inorgânica
- Metrologia em corrente contínua e alternada em baixa frequência
- Metrologia em dinâmica dos fluidos
- Metrologia em informática
- Metrologia em grandezas ópticas físicas
- Metrologia em grandezas térmicas
- Metrologia em potência e energia
- Metrologia em sistemas de comunicação
- Metrologia em ultra-som
- Metrologia em vibrações
- Microscopia de ponta de prova
- Motores a combustão interna automotivo
- Quimeometria
- Síntese de fármacos
- Tecnologia de medidas de grandezas ópticas
- Tecnologia de medidas em dinâmica dos fluidos
- Teoria aplicada à nanometrologia
